レイテックス
本店:東京都多摩市落合一丁目33番3号

【商号履歴】
株式会社レイテックス(1988年7月19日~)

【株式上場履歴】
<東証マザーズ>2004年4月22日~2011年3月1日(時価総額基準未達)

【沿革】
昭和63年7月 東京都八王子市に資本金3百万円で株式会社レイテックスを設立
平成2年7月 Chapman社製非接触表面粗さ計の販売を開始
平成5年5月 E+H社製ウェーハ形状測定器の販売を開始
平成6年1月 本社を東京都国分寺市に移転
平成7年6月 本社を東京都多摩市に移転
平成7年12月 ウェーハエッジ欠陥自動検査装置「EdgeScan」の開発を開始
平成8年5月 ウェーハエッジ欠陥自動検査装置「EdgeScan」の販売を開始(自社開発第1弾)
平成9年3月 ディスク用表面粗さセンサーの販売を開始(自社開発第2弾)
平成13年1月 セキテクノトロン株式会社とウェーハエッジ欠陥自動検査装置の総代理店契約を締結
平成13年4月 ウェーハ裏面自動検査装置「BackScan」の販売を開始(自社開発第3弾)
平成13年7月 ウェーハトポグラフィー測定検査装置「DynaSearch」の販売代理権を獲得
平成14年7月 ウェーハトポグラフィー測定検査装置「DynaSearch」の機能向上を目指し自社開発を開始
平成15年1月 ウェーハエッジ裏面複合検査装置「EdgeScan B+plus」の販売を開始
平成15年3月 福島県福島市に福島オフィスを開設
平成15年6月 福岡県福岡市中央区に九州オフィスを開設
平成15年7月 Therma-Wave社製薄膜測定装置及びイオンドーズモニターの販売を開始
平成15年7月 米国オレゴン州に RAYTEX USA CORPORATION を設立
平成15年10月 中間工程向けウェーハ全面検査装置を発表(自社開発第4弾)
平成15年10月 ウェーハトポグラフィー測定検査装置「DynaSearch XP」(自社開発版)を発表
平成16年4月 株式会社東京証券取引所マザーズに株式を上場
平成16年6月 ウェーハトポグラフィ測定検査装置「DynaSearch」に関する特許権・商標権の取得
平成16年8月 台湾 台北市に台湾オフィスを開設
平成16年9月 KLA-Tencor社より、ウェーハ測定検査機「NanoPro NP1」に関する特許権・商標権の取得
平成16年9月 セキテクノトロン株式会社とウェーハエッジ欠陥自動検査装置の総代理店契約を解除
平成16年10月 ウェーハエッジ欠陥検査装置「EdgeScan plus」の販売を開始
平成16年10月 韓国 京畿道龍仁市に韓国オフィスを開設
平成17年5月 ウェーハエッジ・裏面多機能検査装置の販売を開始
平成18年1月 品質マネジメントシステムの国際規格ISO9001:2000認証取得
平成18年5月 ウェーハ測定検査機「NanoPro NP1」の販売を開始
平成18年7月 多摩市落合に新社屋完成、本社移転
平成19年3月 株式交換により、株式会社ナノシステムソリューションズを完全子会社化
平成19年7月 Therma-Wave社との独占販売代理店契約を解除